工作原理 基于近紅外（NIR）光譜測量技術(shù)的分析方法在工業(yè)和實驗室中越來越重要，用于解決不同的問題。

近紅外光譜儀uniSPEC2.2S是一種緊湊的臺式測量設(shè)備，適用于實驗室或工業(yè)環(huán)境中的離線或在線使用。

針對各種應(yīng)用，提供了不同類型的探頭。這些探頭通過電纜與基礎(chǔ)設(shè)備連接。

應(yīng)用領(lǐng)域：

· 用于質(zhì)量控制中快速實驗室分析的實驗室設(shè)備

· 用于生產(chǎn)過程中質(zhì)量參數(shù)的確定的工業(yè)設(shè)備

· 在收貨和發(fā)貨部門進行現(xiàn)場分析

無論應(yīng)用領(lǐng)域如何，分析方法都可用于以下方面：

· 材料基質(zhì)的識別（定性）

· 成分的確定（定性）

· 特定成分的分析（定量）

近紅外光譜儀uniSPEC2.2P是一款緊湊便攜的光譜設(shè)備，專為現(xiàn)場工業(yè)應(yīng)用而開發(fā)。該設(shè)備配備了一個4.5英寸的觸摸屏，可以通過該屏幕控制定制的應(yīng)用程序。探頭與基礎(chǔ)設(shè)備之間提供兩種不同的連接方式：

內(nèi)部連接： 探頭PSP集成在基礎(chǔ)設(shè)備中。測量窗口位于設(shè)備的覆蓋板上。通過將樣品放置在測量窗口上進行測量。

外部連接： 探頭PSP通過柔性電纜與基礎(chǔ)設(shè)備連接。在工業(yè)環(huán)境中，探頭可以直接放置在樣品上進行測量。

近紅外光譜儀uniSPEC2.2L專為實驗室應(yīng)用而開發(fā)。針對該設(shè)備開發(fā)了特殊的校準(zhǔn)程序，以實現(xiàn)測量結(jié)果的高精度和重復(fù)性。設(shè)備具有九個獨立的樣品室，在測量周期中對負載進行測量和評估。該設(shè)備配備了內(nèi)部的PSP探頭，可實現(xiàn)對樣品的無接觸掃描測量。

應(yīng)用領(lǐng)域： 用于質(zhì)量控制的實驗室分析

應(yīng)用領(lǐng)域： 塑料的儀器分析

· 塑料的識別，特別是標(biāo)準(zhǔn)塑料、工程塑料、電子塑料、選定的深色塑料部分、可生物降解塑料、塑料薄膜

· 塑料添加劑的確定，特別是阻燃劑、填料、顏料

工業(yè)礦物的測定 應(yīng)用支持

· 為阻燃劑、填料、顏料開發(fā)用戶定義的光譜庫

紙張的儀器分析

· 紙張成分的分析測定，特別是纖維素、木素、水分

· 無機添加劑的識別，如高嶺土、碳酸鈣、滑石

薄層的儀器分析

· 特別是印刷品和涂層；對紫外光固化顏料和涂料的丙烯酸酯轉(zhuǎn)化進行分析

紫外光固化顏料在食品包裝中的遷移的測定

uniSPEC2.2的功能原理 近紅外光譜儀uniSPEC2.2基于近紅外波長范圍內(nèi)的吸收光譜技術(shù)。探頭中集成的光源發(fā)射光線，激發(fā)樣品。樣品在特定波長范圍內(nèi)吸收照射光的能量。在光譜中出現(xiàn)特征吸收帶，這些帶對應(yīng)于材料組成。

樣品反射的光線包括與吸收帶相互作用的結(jié)果，將被引導(dǎo)到光譜儀的入射狹縫。由可調(diào)節(jié)的曝光時間的線陣相機記錄生成的光譜，并傳輸?shù)絻?nèi)部控制計算機進行分析和顯示。

探頭概述： 反射式探頭PSPW / PSPD 用于分析固體和黏稠樣品。可以直接將樣品放置在測量窗口上進行測量，或者從15毫米的距離無接觸測量。

· 測量區(qū)直徑約為2毫米

· 自動校準(zhǔn)，內(nèi)部光源

反射式探頭PPA 用于分析固體和非常不均勻的樣品。

· 測量區(qū)大小約為50 x 10毫米

· 無接觸測量，測量距離為25毫米

· 自動內(nèi)部校準(zhǔn)，內(nèi)部光源

透射式探頭PL 可調(diào)節(jié)測量區(qū)的浸入式探頭，用于液體的分析。

· 測量光束直徑為10毫米

· 液體柱：可調(diào)節(jié)0至4毫米